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二手 JSM日本電子--IT100/IT500掃描電鏡應(yīng)用于無(wú)機(jī)材料、高分子材料、復(fù)合材料、納米材料、半導(dǎo)體等材料中 ? 表面形貌觀察 ? 組織結(jié)構(gòu)觀察 ? 顆粒大小分析 ? 斷面性質(zhì)分析 ? 微區(qū)成份分析。
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Hitachi 二手SU5000熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡允許在高真空和可變壓力模式之間進(jìn)行簡(jiǎn)單的切換。樣品室可容納大型樣品(-200mmφ,-80mmH)。使用無(wú)場(chǎng)光學(xué)元件和可變壓力輕松對(duì)任何類型的樣品進(jìn)行成像,最多可同時(shí)提供4個(gè)信號(hào),3D MultiFinder工具,使樣品可以輕松傾斜和旋轉(zhuǎn),影像依然保持居中和聚焦。
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Hitachi 二手 SU-5000場(chǎng)發(fā)射電鏡 SEM+EDX是一款高性能電子光學(xué)系統(tǒng),具備2.0 nm的二次電子分辨率和強(qiáng)大的低加速電壓成像能力(低至100 V),支持高效微區(qū)分析及材料研究。其“EM Wizard”界面簡(jiǎn)化了操作流程,提供高真空與可變壓力模式之間的靈活切換,并配備了多種分析工具如EDS、WDS、EBSD等,適用于廣泛的科研領(lǐng)域。
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二手 日立 SU-5000 熱場(chǎng)發(fā)射電鏡允許在高真空和可變壓力模式之間進(jìn)行簡(jiǎn)單的切換。樣品室可容納大型樣品(-200mmφ,-80mmH)。使用無(wú)場(chǎng)光學(xué)元件和可變壓力輕松對(duì)任何類型的樣品進(jìn)行成像,最多可同時(shí)提供4個(gè)信號(hào),3D MultiFinder工具,使樣品可以輕松傾斜和旋轉(zhuǎn),影像依然保持居中和聚焦。
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二手 蔡司 sigma300 場(chǎng)發(fā)射電鏡分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合,利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測(cè)器可選:用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間:設(shè)置成像與分析步驟,提高效率。 Sigma 300 性價(jià)比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測(cè)器,可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時(shí)間,任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。
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二手電鏡SEM 二手EDX能譜 JSM-IT100 掃描電子顯微鏡/掃描電鏡 是JSM-6010及JSM-6510的升級(jí)型號(hào),是一款高效能、操作容易、高效率的電子顯微鏡。全新設(shè)計(jì)的InTouchScope操作界面,即便是初次使用儀器的人員也能輕松上手。面對(duì)越來(lái)越多元化的操作環(huán)境需求,JSM-IT100的操作設(shè)計(jì),能讓您更輕松、有效率的使用儀器。
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二手 JEOL日本電子 IT-300 掃描電鏡日本電子掃描電鏡JSM-IT300型是一款高性能,多功能,多用途的鎢燈絲掃描電鏡。前衛(wèi)性外觀設(shè)計(jì)還特別吸引眼球。操作改為觸摸屏控制,極為簡(jiǎn)化,操作簡(jiǎn)單和智能化的一種體驗(yàn)。
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二手 日本電子 IT-500掃描電鏡是JEOL InTouchScope系列的新機(jī)型。 從設(shè)定視野到生成報(bào)告,用于分析的軟件整合于一體,加快了作業(yè)速度!是一款無(wú)縫操作,使用更加方便的掃描電子顯微鏡
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日立SU-8010 二手掃描電鏡通過(guò)對(duì)樣品二次電子、背散射電子的采集,可進(jìn)行物質(zhì)微觀形貌和生物組織觀察;并基于EDS附件得到部分元素定性和半定量分析,可以進(jìn)行微區(qū)的點(diǎn)、線、面掃描測(cè)試。 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SU8010它繼承了上一代S-4800的優(yōu)點(diǎn),性能有進(jìn)一步提高,1kv使用減速功能后,分辨率提升到1.3nm,相對(duì)于S-4800可以在更低的加速電壓下高分辨像,明顯提升了以往很難觀測(cè)的低原子序數(shù)樣品。
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二手 日立 SU8020 高分辨冷場(chǎng)發(fā)射電鏡具有的功能,適用于各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、 背散射電子像觀察及圖像處理。低電壓下通過(guò)在納米尺度上觀察生物樣品如組織、 細(xì)胞、 微生物以及生物大分子等,獲得忠實(shí)原貌的立體感的樣品表面超微形貌結(jié)構(gòu)信息。 具有高性能X射線能譜儀,能同時(shí)進(jìn)行樣品表層的微區(qū)點(diǎn)線面元素的定性、 半定量分析,具有形貌、 化學(xué)組分綜合分析能力。
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